CEM3000系列自動化顆粒度統計掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業需求,包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰,獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。
 更新時間:2025-10-30
更新時間:2025-10-30 產品型號:CEM3000
產品型號:CEM3000 瀏覽量:35
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SuperViewW工業表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
 更新時間:2025-10-28
更新時間:2025-10-28 產品型號:SuperViewW1
產品型號:SuperViewW1 瀏覽量:72
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傳統的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設施,而CEM3000中圖儀器臺式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅固耐用得多。
 更新時間:2025-10-28
更新時間:2025-10-28 產品型號:CEM3000
產品型號:CEM3000 瀏覽量:58
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NS系列國產探針式臺階儀應用場景適應性強,其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求,可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑(軟膜材料)的臺階高度等。
 更新時間:2025-10-24
更新時間:2025-10-24 產品型號:NS200
產品型號:NS200 瀏覽量:134
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VT6000白光共焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量??蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
 更新時間:2025-10-24
更新時間:2025-10-24 產品型號:VT6100
產品型號:VT6100 瀏覽量:92
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掃描電鏡SEM中圖儀器具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業需求,包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰,獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。
 更新時間:2025-10-24
更新時間:2025-10-24 產品型號:CEM3000
產品型號:CEM3000 瀏覽量:144
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