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CEM3000系列自動化顆粒度統計掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。

SuperViewW工業表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

傳統的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個專門的房間或設施，而CEM3000中圖儀器臺式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小，具有更高的易用性，要堅固耐用得多。

NS系列國產探針式臺階儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度等。

VT6000白光共焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

掃描電鏡SEM中圖儀器具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。