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中圖光學(xué)輪廓測量儀直觀的操作界面,讓您對操作流程一目了然,自動(dòng)聚焦,助您一鍵實(shí)現(xiàn)測量過程;可視化的工作流程樹,一鍵激活的圖庫管理功能,所見即所得的分析功能,有一鍵分析功能,批量測量不用愁。
 更新時(shí)間:2025-04-05
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SuperViewW1光學(xué)鏡片表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測量品質(zhì)。
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中圖儀器光學(xué)表面輪廓檢測儀可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,XY載物臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達(dá)亞微米級(jí)別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um,Z向掃描電機(jī)可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達(dá)0.1nm級(jí)別,因此可測非常微小尺寸的器件。
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中圖儀器SuperViewW系列三維光學(xué)表面輪廓儀分辨率可達(dá)0.1nm,測量單個(gè)精密器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
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SuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測量品質(zhì)。
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光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理,對各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
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 三坐標(biāo)測量儀
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