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WD4000晶圓高精度厚度測(cè)量設(shè)備可測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。
 更新時(shí)間:2025-10-30
更新時(shí)間:2025-10-30 產(chǎn)品型號(hào):WD4000
產(chǎn)品型號(hào):WD4000 瀏覽量:29
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WD4000中圖儀器晶圓測(cè)量設(shè)備可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業(yè)??蓽y(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面.
 更新時(shí)間:2025-10-17
更新時(shí)間:2025-10-17 產(chǎn)品型號(hào):WD4000
產(chǎn)品型號(hào):WD4000 瀏覽量:87
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中圖半導(dǎo)體晶圓測(cè)量?jī)x品牌通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。
 更新時(shí)間:2025-10-13
更新時(shí)間:2025-10-13 產(chǎn)品型號(hào):WD4000
產(chǎn)品型號(hào):WD4000 瀏覽量:98
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WD4000中圖儀器無(wú)圖晶圓幾何測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。
 更新時(shí)間:2025-09-30
更新時(shí)間:2025-09-30 產(chǎn)品型號(hào):WD4000
產(chǎn)品型號(hào):WD4000 瀏覽量:155
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?WD4000晶圓BOW值彎曲度測(cè)量系統(tǒng)可測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。
 更新時(shí)間:2025-09-18
更新時(shí)間:2025-09-18 產(chǎn)品型號(hào):WD4000
產(chǎn)品型號(hào):WD4000 瀏覽量:169
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WD4000晶圓顯微形貌測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。
 更新時(shí)間:2025-09-10
更新時(shí)間:2025-09-10 產(chǎn)品型號(hào):WD4000
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 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
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